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FalconWave®-O（简称FW-O）系列太赫兹单点幅度检测仪基于太赫兹测量技术对面材的电特性实现检测和分析。主要原理是采用太赫兹波透射和反射测量方法，并结合了领先的电磁算法实现非接触式的无损测量。检测仪中使用的独立发射探头和接收探头非常适合在不同应用场景下进行灵活组合使用。目前已成功应用于光伏行业，为硅片电阻率测量提供了新的解决方案。O系列检测仪采用了太景科技自研的TIC和TRIC系列CMOS太赫兹芯片。

FalconWave®-O系列
太赫兹单点幅度检测仪

无盲区

1.解决涡流的测量盲区

相关产品

检测盲区

传统涡流探头

太赫兹探头

传统涡流探头
实际检测区域为环形：
内径4mm，外径25mm
实际检测区域为圆形： 直径可定制（1-30mm）

2.测试稳定，累计几十亿张硅片测试验证

以连续5天60万片测试为实例，与涡流测试对比误差小于3%。产品已在头部分选机厂商形成销售，并在多家光伏终端客户投入使用。

FW-OP系列太赫兹单点幅相检测仪
FW-A系列太赫兹阵列幅度检测仪
FW-O系列太赫兹单点幅度检测仪
FW-S系列太赫兹离线扫描仪

光伏硅片电阻率检测

3.解决涡流检测对硅片震动敏感的问题

FW-O系列产品的测量稳定性在终端客户和千万张硅片的实际测试中得到验证，同时还发现进口探头在测试时出现了电阻率突变的现象。

结论：由于涡流探头距离硅片非常近(1-2毫米)，因此硅片的上下振动对涡流探头测量结果影响较大；而FW-O系列产品上下探头间距较宽(几十毫米)，硅片振动可以忽略。

4.分选机硅片产线动态测试数据